Recente Toepassingen in de Elementenanalyse (studiedag met vendors)
De presentaties van deze dag kan je hieronder bekijken:
| 09.05 - 09.45 | G. De Loos (TU Delft) KEYNOTE 1 Nieuwe ontwikkelingen in de atoomspectrometrische analyse |
| 09.45 - 10.05 | K. Tirez (VITO) Chemische karakterisering van zwevend en depositie stof in binnen en buiten omgeving |
| 10.05 - 10.25 | D. Mondelaers (UMICORE) Stoechiometrische analyses op mengoxides, legeringen en precursoren via diverse technieken |
| 10.25 - 10.45 | J. Lenaerts (Agfa) Complementariteit van Micro-XRF en SEM-EDX in materiaal onderzoek |
| 11.00 - 11.20 | J. Claessens (BAYER Antwerpen) 'Elementary! My dear Watson.' ... Over de identificatie van onbekende afzettingen door middel van een multitechnische aanpak |
| 11.20 - 11.40 | M. Uytterhoeven (AML) ICP-MS in een klinische routine-omgeving: aanpak |
| 11.40 - 12.00 | P. Krystek (vroeger RIVM) Niet alledaagse toepassingen van inductief gekoppeld plasma massa spectrometrie (ICPMS) in humaan blootstellingsonderzoek |
| 14.00 - 14.40 | F. Vanhaecke (UGent) KEYNOTE 2 ICPMS en de kracht van isotopen |
| 14.40 - 15.00 | W. Devos (SOLVAY) Toepassingen van hoge resolutie ICP-MS in het Centraal Analyselabo van Solvay |
| 15.30 - 15.50 | H. Eberhard (NXP Semiconductors) Ultra-trace analysis with ICP-MS in the semiconductor industry |
| 15.50 - 16.10 | M. Madani (ARCELOR) Applications of HR-ICP-MS in the steel industry |